Microscopie électronique à balayage et microanalyse aux rayons X : Un texte pour les biologistes, les spécialistes des matériaux et les géologues

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Titre original :

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Contenu du livre :

Ce livre a évolué par des processus de sélection et d'expansion à partir de son prédécesseur, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), publié par Plenum Press en 1975. L'interaction des auteurs avec les étudiants du Short Course on Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, qui se tient chaque année à l'université de Lehigh, a grandement contribué à l'élaboration de ce manuel.

Le matériel a été choisi pour fournir à l'étudiant une introduction générale aux techniques de microscopie électronique à balayage et de microanalyse à rayons X, adaptée à des applications dans des domaines tels que la biologie, la géologie, la physique des solides et la science des matériaux. Suivant le format du PSEM, ce livre donne à l'étudiant une connaissance de base (1) des fonctions contrôlées par l'utilisateur de l'optique électronique du microscope électronique à balayage et de la microsonde électronique, (2) des caractéristiques des interactions entre le faisceau électronique et l'échantillon, (3) de la formation et de l'interprétation des images, (4) de la spectrométrie à rayons X, et (5) de la microanalyse quantitative à rayons X. Chacun de ces sujets a été mis à jour et actualisé en fonction des besoins de l'étudiant et de ses besoins.

Chacun de ces sujets a été mis à jour et, dans la plupart des cas, développé par rapport au matériel présenté dans PSEM afin de donner au lecteur une couverture suffisante pour comprendre ces sujets et appliquer les informations dans le laboratoire. Tout au long du texte, nous avons essayé de mettre l'accent sur les aspects pratiques des techniques, en décrivant les paramètres des instruments que le microscopiste peut et doit manipuler pour obtenir des informations optimales à partir de l'échantillon.

Certains domaines en particulier ont été élargis en réponse à leur importance croissante dans le domaine de la SEM. Ainsi, la spectrométrie de rayons X à dispersion d'énergie, qui a connu une croissance fulgurante, est traitée de manière très détaillée.

Autres informations sur le livre :

• ISBN : 9781461332756
• Auteur : Joseph Goldstein
• Éditeur : Springer Nature
• Langue : anglais
• Reliure : Broché