Microscopie électronique à balayage et microanalyse aux rayons X : Troisième édition

Note :   (4,8 sur 5)

Microscopie électronique à balayage et microanalyse aux rayons X : Troisième édition (Joseph Goldstein)

Avis des lecteurs

Résumé:

Le livre sur la microscopie électronique à balayage (MEB) reçoit des critiques extrêmement positives de la part des utilisateurs, dont beaucoup louent la clarté, l'organisation et l'exhaustivité de l'ouvrage. Il est considéré comme un ouvrage de référence pour les débutants et les utilisateurs expérimentés. Les utilisateurs apprécient les illustrations et le style d'écriture compréhensible, qui rend les concepts complexes plus accessibles. Toutefois, certaines critiques font état de verbosité et de problèmes liés à l'état de certains exemplaires reçus.

Avantages:

Bien organisé et informatif
rédaction claire et concise
facile à utiliser pour les débutants et les utilisateurs expérimentés
excellentes illustrations
couverture complète des principes fondamentaux et des techniques du SEM
livraison rapide
bon état des nouveaux exemplaires.

Inconvénients:

Certains commentaires mentionnent parfois la verbosité
quelques exemplaires ont été reçus dans un état moins que parfait
le délai de livraison d'Amazon a été plus long que prévu.

(basé sur 24 avis de lecteurs)

Titre original :

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Contenu du livre :

Ce texte, idéal pour les étudiants comme pour les praticiens, est une introduction complète au domaine de la microscopie électronique à balayage (MEB) et de la microanalyse à rayons X.

Ce texte a été utilisé pour former plus de 3 000 étudiants dans le cadre du cours de courte durée sur la microscopie électronique à balayage de Lehigh, ainsi que des milliers d'étudiants de premier et de deuxième cycle dans des universités du monde entier. Les auteurs mettent l'accent sur les aspects pratiques des techniques décrites.

Les sujets abordés comprennent les fonctions contrôlées par l'utilisateur des microscopes électroniques à balayage et des spectromètres à rayons X, ainsi que l'utilisation des rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative. Des chapitres distincts couvrent les méthodes de préparation des échantillons SEM pour les matériaux durs, les polymères et les échantillons biologiques.

Autres informations sur le livre :

ISBN :9780306472923
Auteur :
Éditeur :
Langue :anglais
Reliure :Relié

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Dernière modification: 2024.11.14 07:32 (GMT)