Microscopie électronique à balayage et microanalyse aux rayons X : Troisième édition

Note :   (4,8 sur 5)

Microscopie électronique à balayage et microanalyse aux rayons X : Troisième édition (Joseph Goldstein)

Avis des lecteurs

Résumé:

Le livre sur la microscopie électronique à balayage (MEB) est considéré comme une ressource complète et accessible, tant pour les débutants que pour les utilisateurs expérimentés. Il couvre les principes fondamentaux et les détails techniques de manière claire et concise, ce qui en fait un excellent choix pour ceux qui travaillent avec des microscopes électroniques à balayage. Bien que le livre soit loué pour son organisation, ses illustrations et la profondeur de ses informations, certains lecteurs notent qu'il est parfois verbeux, et qu'il y a des problèmes mineurs de livraison et d'état.

Avantages:

Style d'écriture clair et concis, bien illustré, structure organisée, couvre à la fois les principes fondamentaux et le contenu technique détaillé, convient à la fois aux débutants et aux utilisateurs expérimentés, excellent matériel de référence, prix raisonnable.

Inconvénients:

Parfois un peu verbeux, quelques retards de livraison signalés, quelques problèmes d'état (pages décollées), certains utilisateurs mentionnent que les équations pourraient être améliorées.

(basé sur 24 avis de lecteurs)

Titre original :

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Contenu du livre :

Ce texte, idéal pour les étudiants comme pour les praticiens, est une introduction complète au domaine de la microscopie électronique à balayage (MEB) et de la microanalyse à rayons X.

Ce texte a été utilisé pour former plus de 3 000 étudiants dans le cadre du cours de courte durée sur la microscopie électronique à balayage de Lehigh, ainsi que des milliers d'étudiants de premier et de deuxième cycle dans des universités du monde entier. Les auteurs mettent l'accent sur les aspects pratiques des techniques décrites.

Les sujets abordés comprennent les fonctions contrôlées par l'utilisateur des microscopes électroniques à balayage et des spectromètres à rayons X, ainsi que l'utilisation des rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative. Des chapitres distincts couvrent les méthodes de préparation des échantillons SEM pour les matériaux durs, les polymères et les échantillons biologiques.

Autres informations sur le livre :

ISBN :9781461349693
Auteur :
Éditeur :
Langue :anglais
Reliure :Broché

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Dernière modification: 2024.11.14 07:32 (GMT)