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Titre original :
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
Contenu du livre :
L'ellipsométrie est une technique expérimentale permettant de déterminer l'épaisseur et les propriétés optiques des films minces.
Elle est idéalement adaptée aux films dont l'épaisseur varie de quelques nanomètres à plusieurs microns. Les mesures spectroscopiques ont considérablement élargi les possibilités de cette technique et introduit son utilisation dans tous les domaines où l'on trouve des couches minces : dispositifs à semi-conducteurs, écrans plats et écrans mobiles, empilements de revêtements optiques, revêtements biologiques et médicaux, couches protectrices, et bien d'autres encore.
Bien qu'il existe plusieurs ouvrages spécialisés sur le sujet, ce livre constitue une bonne introduction à la théorie de base de la technique et à ses applications courantes. Le public cible n'est pas le spécialiste de l'ellipsométrie, mais les ingénieurs de procédés et les étudiants en science des matériaux qui sont experts dans leur propre domaine et souhaitent utiliser l'ellipsométrie pour mesurer les propriétés des couches minces sans devenir un expert en ellipsométrie.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9781606507278 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Broché |
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