Titre original :
Scientific Researches in Atomic Force Microscopy
Contenu du livre :
Ce livre élucide les recherches scientifiques dans le domaine de la microscopie à force atomique.
L'invention du microscope à force atomique (AFM) a entraîné des changements radicaux dans le domaine de l'analyse des surfaces. Il s'est avéré être une ressource et une méthode d'investigation essentielle, utilisée pour l'étude qualitative et quantitative des surfaces avec des résolutions inférieures au nanomètre.
En outre, les échantillons analysés à l'aide de ce microscope ne nécessitent pas de procédures de préparation préalables. Cela permet d'éviter toute altération ou effet indésirable susceptible d'endommager l'échantillon tout en permettant une étude tridimensionnelle de la surface extérieure. Ce livre présente les derniers travaux des maîtres de cette méthode dans le monde entier.
Cette méthode a été facilement acceptée pour l'obtention d'informations importantes dans un large éventail de domaines. Depuis sa création en 1986, elle a trouvé de multiples applications dans les domaines de la fabrication, de la recherche et du progrès.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9781632384096 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Relié |
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