Accelerated Life Testing of One-Shot Devices: Data Collection and Analysis
Un dispositif à usage unique est une unité qui ne remplit sa fonction qu'une seule fois et ne peut être utilisée pour des essais plus d'une fois. Il s'agit par exemple de dispositifs explosifs électriques, d'extincteurs, d'airbags dans les voitures et de missiles.
Lors du test des dispositifs à usage unique, seul l'état du dispositif à un moment précis de l'inspection peut être enregistré, et les temps de défaillance exacts ne peuvent pas être obtenus à partir du test. Par conséquent, les durées de vie des dispositifs sont censurées à gauche ou à droite. En raison du manque de données sur la durée de vie collectées lors des tests de durée de vie, l'estimation de la fiabilité des dispositifs à usage unique dans les approches traditionnelles devient difficile.
Ce livre se concentre principalement sur les questions fondamentales de la modélisation statistique basée sur les données de test des dispositifs one-shot collectées lors de tests de durée de vie accélérés. Il présente également des techniques statistiques avancées.
Par exemple, des algorithmes de maximisation de l'espérance et des approches bayésiennes pour relever les défis de l'estimation, ainsi qu'une analyse complète des données des dispositifs one-shot dans le cadre de tests de durée de vie accélérés. Les lecteurs peuvent appliquer les techniques de ce livre à leurs propres données de durée de vie avec censure.
Ce livre est idéal pour les étudiants de troisième cycle, les chercheurs et les ingénieurs qui travaillent sur l'analyse des données de tests de durée de vie accélérés.
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Dernière modification: 2024.11.14 07:32 (GMT)