Titre original :
Advanced VLSI Design and Testability Issues
Contenu du livre :
Ce livre permet aux personnes intéressées par les VLSI d'acquérir non seulement des connaissances approfondies, mais aussi des aspects généraux en expliquant leurs applications dans différents domaines, y compris le traitement d'images et le biomédical. La compréhension approfondie des concepts de base vous donne la possibilité de développer un nouvel aspect de l'application, ce qui est très bien pris en compte dans ce livre en utilisant un langage simple pour expliquer les concepts.
Dans le monde VLSI, l'importance des langages de description de matériel ne peut être ignorée, car la conception de circuits aussi denses et complexes n'est pas possible sans eux. Les langages Verilog et VHDL sont utilisés ici pour la conception. Les besoins actuels des circuits intégrés (CI) à haute performance, y compris les dispositifs à faible consommation et les nouveaux matériaux émergents, qui peuvent jouer un rôle très important dans la réalisation de nouvelles fonctionnalités, constituent la partie la plus intéressante du livre.
Le test des circuits VLSI devient plus crucial que la conception des circuits à l'ère de la technologie nanométrique.
Le rôle des algorithmes de simulation de défauts est très bien expliqué, et leur mise en œuvre à l'aide de Verilog est l'aspect clé de ce livre. Ce livre est organisé en 20 chapitres.
Le chapitre 1 met l'accent sur l'utilisation des FPGA dans diverses applications biomédicales et de traitement d'images. Ensuite, les descriptions éclairent la compréhension de base de la conception numérique du point de vue du HDL dans les chapitres 2 à 5. Les chapitres 6 et 7 se concentrent sur l'amélioration des performances avec des matériaux ou des géométries alternatifs pour les conceptions de FET à base de silicium.
Les chapitres 8 et 9 décrivent l'étude des interactions bimoléculaires avec les FET de biodétection. Les chapitres 10 à 13 traitent des structures FET avancées disponibles sous différentes formes, des matériaux tels que les nanofils, les HFET, et de leur comparaison en termes de calcul des mesures de performance des dispositifs. Les chapitres 14 à 18 décrivent différentes techniques de conception VLSI spécifiques aux applications et les défis posés par la conception de circuits analogiques et numériques.
Le chapitre 19 explique les problèmes de testabilité VLSI avec la description de la simulation et sa catégorisation en simulation logique et de défauts pour la génération de modèles de test à l'aide de Verilog HDL. Le chapitre 20 traite d'une conception VLSI sécurisée avec obscurcissement du matériel en cachant la structure et la fonction du circuit intégré, ce qui le rend beaucoup plus difficile à rétroconcevoir.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9780367538361 |
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| Éditeur : | |
| Reliure : | Broché |
| Année de publication : | 2022 |
| Nombre de pages : | 360 |
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