Spectrométrie de masse des ions secondaires : Applications pour le profilage en profondeur et la caractérisation des surfaces

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Titre original :

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Contenu du livre :

Ce livre a été écrit pour expliquer une technique qui nécessite la compréhension de nombreux détails afin d'obtenir et d'interpréter correctement les données obtenues.

Il servira également de référence à ceux qui doivent fournir des données SIMS. Le livre comporte plus de 200 figures et les références permettent de retracer le développement de l'ISSM et de comprendre les nombreux détails de la technique.

Autres informations sur le livre :

• ISBN : 9781606505885
• Auteur : Fred Stevie
• Éditeur : Cab Intl
• Reliure : Broché