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Titre original :
X-Ray Fluorescence Spectrometry and Related Techniques: An Introduction
Contenu du livre :
La spectrométrie de fluorescence X (XRF) est une technique analytique bien établie pour l'analyse élémentaire qualitative et quantitative d'une grande variété d'échantillons de contrôle de qualité de routine et de recherche. Parmi ses nombreuses caractéristiques souhaitables, elle offre une véritable analyse multi-éléments, une rapidité et une économie acceptables, une automatisation aisée et la capacité d'analyser des échantillons solides.
Cette contribution remarquable à ce domaine fournit un compte rendu complet et actualisé des principes de base, des développements récents, de l'instrumentation, des procédures de préparation des échantillons et des applications de l'analyse XRF. Si vous êtes un professionnel de la science des matériaux, de la chimie analytique ou de la physique, vous bénéficierez non seulement de l'examen des principes de base, mais aussi des technologies récemment développées avec le XRF.
Ces récentes avancées technologiques, notamment la conception de tubes à microfoyer de faible puissance et de nouveaux optiques et détecteurs de rayons X, ont permis d'étendre l'analyse par fluorescence X à l'analyse d'éléments de basse Z et d'obtenir des informations 2D ou 3D à l'échelle du micromètre. En outre, le développement et la commercialisation récents d'instruments de table et d'instruments portables, offrant une extrême simplicité d'utilisation dans une conception peu coûteuse, ont étendu les applications de la fluorescence X à de nombreux autres problèmes analytiques.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9781606503911 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Relié |
| Année de publication : | 2013 |
| Nombre de pages : | 157 |
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