Titre original :
Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Contenu du livre :
Le domaine des films ultraminces, un sous-groupe de nanomatériaux, a connu un essor de la recherche au cours des 30 dernières années. Les études ont principalement été réalisées à l'aide de la réflectométrie neutronique et de la réflectométrie à rayons X.
La technique de réflectométrie neutronique polarisée (PNR) est un outil non destructif unique pour comprendre le magnétisme des films minces à l'échelle mésoscopique. Ce livre présente les techniques de réflectométrie aux rayons X et aux neutrons et la manière dont elles peuvent être utilisées pour explorer la structure de l'interface et le magnétisme à l'échelle mésoscopique dans les couches minces et les multicouches. Le texte couvre les principes de base de la réflectivité des rayons X et des neutrons et les différents modes de réflectivité des neutrons avec de nombreux exemples utiles.
Ce texte de référence est utile pour les étudiants en recherche qui travaillent dans le domaine du magnétisme d'interface dans les couches minces et les multicouches. Caractéristiques principales : Introduit le lecteur au domaine de la réflectométrie, en particulier la réflectométrie neutronique polarisée et la réflectométrie à rayons X.
Familiarise les chercheurs avec l'importance des propriétés d'interface dans les couches minces. Démontre à l'aide d'exemples comment les propriétés peuvent être déterminées avec une résolution inférieure au nanomètre.
Fournit un résumé avec un grand nombre d'exemples contemporains et de références.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9780750346931 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Relié |
| Année de publication : | 2022 |
| Nombre de pages : | 182 |
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