Physique et ingénierie de la fiabilité : Modélisation du temps de défaillance

Avis des lecteurs

Résumé:

Ce livre est apprécié pour sa couverture complète de la physique de la fiabilité, avec un accent particulier sur la fiabilité des circuits intégrés (CI). Il est bien structuré, commençant par les concepts fondamentaux et progressant vers des sujets complexes, soutenus par des exemples du monde réel et des problèmes pratiques.

Avantages:

Explication approfondie de la physique de la fiabilité, excellent pour les applications d'ingénierie, accent mis sur la fiabilité des circuits intégrés, approche fondamentale de la thermodynamique, exemples pratiques et problèmes pour une meilleure compréhension.

Inconvénients:

Aucun mentionné dans les critiques.

(basé sur 4 avis de lecteurs)

Titre original :

Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

Contenu du livre :

Fournit un manuel complet sur la physique de la fiabilité des semi-conducteurs, des principes fondamentaux aux applications.

Explique les principes fondamentaux de la physique de la fiabilité et les outils d'ingénierie pour construire de meilleurs produits.

Contient une formation et des outils statistiques dans le texte.

Inclut de nouveaux chapitres sur la physique de la dégradation, la résonance et la dégradation induite par la résonance.

Autres informations sur le livre :

• ISBN : 9783319936826
• Auteur : W. McPherson J.
• Éditeur : Springer Nature
• Reliure : Relié
• Année de publication : 2019
• Nombre de pages : 463