Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Literature Review de l'année 2015 dans la matière Engineering - General, Basics, Indian Institute of Technology, Delhi, course : Ingénierie minérale, langue : English, abstract : La résolution à l'échelle atomique est nécessaire pour étudier l'arrangement des atomes dans les matériaux et faire progresser leur compréhension.
Depuis le XVIIe siècle, les microscopes optiques utilisant la lumière visible comme source d'éclairage nous ont permis d'observer des espèces microscopiques, mais la résolution atteignable a atteint des limites physiques en raison de la longueur d'onde beaucoup plus grande de la lumière visible. Après la découverte de la nature ondulatoire associée aux corps de particules, une nouvelle voie de réflexion s'est ouverte en considérant la longueur d'onde beaucoup plus courte des particules et leurs propriétés particulières lorsqu'elles interagissent avec l'échantillon observé.
Ces particules, à savoir les électrons, les neutrons et les ions, ont été développées dans différentes techniques et ont été utilisées comme sources d'éclairage. C'est ainsi que le développement de la microscopie à effet tunnel, qui utilise des électrons pour découvrir des irrégularités dans la disposition des atomes dans des matériaux minces grâce au phénomène mécanique quantique de l'effet tunnel des électrons, est devenu une invention sensationnelle. La microscopie à force atomique (AFM) est une évolution de la STM qui repose sur la mesure des forces de contact entre l'échantillon et une sonde de balayage, ce qui a permis de surmonter la technique antérieure qui ne permettait d'observer que les conducteurs ou les surfaces prétraitées pour la conduction.
Étant donné que la mesure des forces de contact entre les matériaux est une approche plus fondamentale qui est tout aussi sensible, mais plus sensible, que la mesure du courant tunnel circulant entre eux, la microscopie à force atomique a été en mesure d'imager les isolants ainsi que les semi-conducteurs et les conducteurs avec une résolution atomique en remplaçant le courant tunnel par un dispositif de détection de la force de contact atomique, un cantilever délicat, qui peut imager les conducteurs et les isolants par un « toucher » mécanique tout en passant sur les atomes de surface de l'échantillon. L'AFM a connu une prolifération massive dans les laboratoires d'amateurs sous la forme d'appareils ambiants.
| ISBN : | 9783668588264 |
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| Langue : | anglais |
| Reliure : | Broché |
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