Titre original :
Modeling Methods of Optical Inhomogeneous Structures
Contenu du livre :
Ce travail sera utile aux spécialistes de l'ellipsométrie et aux ingénieurs chargés de mesurer la surface rugueuse et de déterminer les propriétés de structures ou de films inhomogènes, tels que les oxydes polymorphes de titane ou de vanadium, le nitrure de silicium après oxydation, les défauts de croissance des films MBE.
Ce travail serait utile à tous ceux qui souhaitent améliorer la qualité de l'estimation des paramètres souhaités, à condition que l'expérimentateur utilise le nouvel algorithme de la procédure de minimisation avec l'analyse statistique d'un ensemble de solutions trouvées et la variation pas à pas des frontières du simplexe qui restreignent le domaine des valeurs souhaitées.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9783659429774 |
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| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Broché |
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