Titre original :
Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits
Contenu du livre :
Ce livre comprend deux méthodologies de test basées sur des capteurs intégrés (BIS) et une technique basée sur l'optimisation. La première partie propose deux nouveaux capteurs intégrés (BIS) pour le test des circuits numériques CMOS et analogiques.
Les BIS ne dégradent pas la tension, sont capables de détecter, d'identifier et de localiser les défauts de circuit ouvert et de court-circuit, ont des réalisations simples avec une surface et un temps de détection très réduits. Le BIS est utilisé pour tester une cellule multiplicatrice 4x4 où tous les défauts injectés sont détectés et localisés. L'autre BIS est dédié au test de circuits analogiques.
Il est appliqué pour tester deux blocs de construction analogiques bien connus, l'amplificateur opérationnel à rétroaction de courant (CFOA) et l'amplificateur à transistance opérationnelle (OTRA). Le BIS proposé teste les caractéristiques terminales des blocs analogiques.
Des simulations sont effectuées pour tester un filtre analogique universel basé sur le CFOA et un filtre universel basé sur l'OTRA. La deuxième partie propose un algorithme de test pour détecter les défauts paramétriques simples et doubles dans les circuits analogiques en estimant les valeurs réelles des paramètres de la coupe.
L'algorithme est appliqué à un filtre passe-bande du second ordre de Sallen-Key et les simulations montrent que tous les défauts injectés sont détectés et diagnostiqués correctement.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9783659383632 |
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| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Broché |
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