Titre original :
The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
Contenu du livre :
La spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS) est une technique d'analyse très sensible à la surface qui fournit des informations sur la composition avec une résolution latérale submicronique. Pour certains matériaux, la TOF-SIMS offre une sensibilité inégalée ainsi qu'une excellente reproductibilité et, en tant que technique de spectrométrie de masse, elle offre également une excellente spécificité.
Parmi les méthodes analytiques disponibles, elle est l'une des plus sensibles à la surface, mais les principes physiques qui la sous-tendent sont également les moins bien compris. Ce volume décrit l'instrumentation, les principes physiques qui sous-tendent la technique dans la mesure où ils sont compris, et fournit une approche pratique pour l'interprétation des données TOF-SIMS.
L'utilisation de méthodes avancées de traitement des données, telles que les statistiques multivariées, est décrite d'une manière facilement accessible. Si l'on dispose d'une formation de base en chimie et en physique, ce livre sera utile à tout étudiant intéressé par cette technique.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9781606507735 |
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| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Broché |
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