La criminalistique nucléaire : Mesures des oxydes d'uranium par spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol

Titre original :

Nuclear Forensics: Measurements of Uranium Oxides Using Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Contenu du livre :

Au cours de la dernière décennie, les forces de l'ordre, les agences gouvernementales et publiques ont été confrontées à la menace du trafic de matières nucléaires. Au cours de cette période, les rapports de l'Agence internationale de l'énergie atomique sur le trafic illicite ont été multipliés par huit, passant de 20 à 160.

C'est pourquoi la criminalistique nucléaire est une science en plein essor qui se concentre sur l'identification des matières nucléaires spéciales saisies. L'identification de ces matières repose sur la richesse des informations que l'on peut obtenir en appliquant de multiples technologies d'analyse et de mesure. Toutes les informations obtenues à partir de chaque échantillon peuvent ensuite être utilisées pour caractériser davantage d'autres échantillons, ce qui aboutit à l'inclusion de toutes les données collectées dans une base de données centrale.

Les informations doivent être communiquées en temps utile, car les résultats exploitables doivent être présentés le plus rapidement possible si l'on veut pouvoir attribuer le trafic de matières nucléaires. Les paramètres d'identification tels que la teneur en uranium, la composition isotopique et les niveaux d'impuretés peuvent être mesurés simultanément afin de caractériser complètement un échantillon. Toutes ces mesures combinées peuvent fournir des informations sur la source de la matière et son utilisation prévue.

Bon nombre des techniques analytiques actuellement utilisées en criminalistique nucléaire nécessitent une préparation poussée de l'échantillon et n'offrent qu'un minimum d'informations sur l'échantillon. La spectrométrie de masse des ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS) est présentée comme une technique d'analyse rapide qui fournit un grand nombre de ces paramètres d'identification avec une préparation minimale de l'échantillon. Des spectres TOF-SIMS ont été recueillis sur huit matériaux de référence standard différents couvrant une gamme de stœchiométries et de niveaux d'enrichissement.

Les échantillons comprenaient des stœchiométries d'UO2, d'UO3 et d'U3O8 allant d'un uranium légèrement appauvri (0,5% 235U) à un uranium hautement enrichi (90,0% 235U). Les spectres ont été simulés dans le but de déconvoluer les pics composites résultant de la protonation des ions cluster.

Autres informations sur le livre :

• ISBN : 9781249834014
• Auteur : A. Schuler Wesley
• Éditeur : Biblioscholar
• Langue : anglais
• Reliure : Broché