Titre original :
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Contenu du livre :
Un texte unique offrant une introduction à l'utilisation de l'ellipsométrie spectroscopique pour la caractérisation de nouveaux matériaux.
Dans Introduction à l'ellipsométrie spectroscopique des matériaux en couches minces : Instrumentation, analyse des données et applications, une équipe d'éminents chercheurs propose une exploration incisive de la manière dont la technique expérimentale traditionnelle de l'ellipsométrie spectroscopique est utilisée pour caractériser les propriétés intrinsèques de nouveaux matériaux. Le livre se concentre sur les dichalcogénures bidimensionnels de métaux de transition (2D-TMD), importants d'un point de vue scientifique et technologique, sur les oxydes magnétiques tels que les matériaux à base de manganite, et sur les supraconducteurs non conventionnels, y compris les systèmes à base d'oxyde de cuivre.
Les auteurs distingués discutent de la caractérisation des propriétés, telles que les structures électroniques, les propriétés interfaciales et la dynamique des quasiparticules qui en découle dans les nouveaux matériaux quantiques. Le livre comprend des études de cas illustratives et spécifiques sur la façon dont l'ellipsométrie spectroscopique est utilisée pour étudier les propriétés optiques et quasi-particulaires de nouveaux systèmes : Des introductions approfondies aux principes de base de l'ellipsométrie spectroscopique et des systèmes fortement corrélés, y compris les oxydes de cuivre et les manganites Des explorations complètes des dichalcogénures bidimensionnels de métaux de transition Des discussions pratiques des systèmes de graphène à couche unique et des systèmes de nickelate Des examens approfondis des développements et applications futurs potentiels de l'ellipsométrie spectroscopique.
Parfait pour les étudiants en physique et en chimie au niveau de la maîtrise et du doctorat, Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials trouvera également sa place dans les bibliothèques de ceux qui étudient la science des matériaux et qui recherchent une référence unique pour les applications de l'ellipsométrie spectroscopique aux nouveaux matériaux mis au point.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9783527349517 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Broché |
| Année de publication : | 2022 |
| Nombre de pages : | 208 |
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