Fiabilité microélectronique (Ipf)

Titre original :

(Ipf)Microelectronic Reliability

Contenu du livre :

Texte/référence couvrant les concepts théoriques des modèles de fiabilité et des distributions de défaillance, jusqu'au traitement et au test des microcircuits GaAs.

Fournit des informations de base sur le développement de l'assurance qualité et des procédures de vérification. Certains des nouveaux changements en cours de développement pour faire face aux pressions exercées.

Autres informations sur le livre :

• ISBN : 9780890062845
• Auteur : B. Hakim Edward
• Éditeur : Artech House Inc
• Langue : anglais
• Reliure : Relié