Fiabilité et dégradation des dispositifs optiques III-V

Titre original :

Reliability and Degradation of III-V Optical Devices

Contenu du livre :

Destiné à aider les chercheurs et les ingénieurs impliqués dans la croissance et le traitement des couches minces de semi-conducteurs composés III-V, ce texte montre le mécanisme de dégradation, détaillant les principaux modes de dégradation des dispositifs optiques fabriqués à partir de trois systèmes différents, et décrivant les méthodes d'élimination des mécanismes générateurs de défauts.

Autres informations sur le livre :

• ISBN : 9780890066522
• Auteur : Osamu Ueda
• Éditeur : Artech House Inc
• Langue : anglais
• Reliure : Relié