Contenu du livre :
Apprenez à évaluer la fiabilité de l'électromigration et à concevoir des puces plus résistantes grâce à cette ressource complète.
De la physique fondamentale aux méthodologies avancées, ce livre permet au lecteur de développer des piles de câblage et des réseaux électriques hautement fiables sur les puces. Il s'agit d'un texte idéal pour les scientifiques spécialistes des matériaux et les ingénieurs concepteurs de puces.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9781107032385 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Sous-titre : | Fundamentals to Nano-Interconnects |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Relié |
| Année de publication : | 2022 |
| Nombre de pages : | 430 |
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