Titre original :
Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Contenu du livre :
Ce livre est une revue actualisée des méthodes expérimentales et théoriques utilisées pour étudier les défauts dans les semi-conducteurs.
Il se concentre sur les développements récents motivés par les besoins de nouveaux matériaux, y compris les nitrures, les semi-conducteurs à base d'oxyde et les semi-conducteurs bidimensionnels. Rédigé par une équipe internationale et édité par un chercheur très réputé dans le domaine, ce livre offre une couverture complète d'une variété de techniques de caractérisation et propose des méthodes pour contrôler les défauts et, par conséquent, les propriétés des semi-conducteurs.
Autres informations sur le livre :
| ISBN : | 9781785616556 |
| Auteur : | |
| Éditeur : | |
| Langue : | anglais |
| Reliure : | Relié |
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