Noise Analysis and Measurement for Active Pixel Sensor Readout Methods
Une étude expérimentale et théorique détaillée du bruit dans les capteurs à pixels actifs (APS) en silicium amorphe (a-Si) en mode courant et en mode tension a été réalisée.
Cette étude tient compte à la fois du scintillement (1/f) et du bruit thermique. Les résultats expérimentaux de cet article mettent l'accent sur le calcul de la variance du bruit de sortie.
L'analyse théorique montre que l'APS en mode tension a un avantage sur l'APS en mode courant en termes de bruit de papillotement dû au fonctionnement du processus de lecture. Les données expérimentales sont comparées à l'analyse théorique et sont en bon accord.
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Dernière modification: 2024.11.14 07:32 (GMT)